儀器介紹
WSG-1電子散斑干涉（ESPI）實驗裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。它是用激光光束直接照射到測試表面，再用數(shù)字相機(jī)采集變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，用以測定其離面位移的新型、先進(jìn)的測試技術(shù)。本實驗裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的方法。
儀器特點
1.采用了高清數(shù)字相機(jī)，更直觀觀察實驗現(xiàn)象。
2.采用計算機(jī)處理圖象，可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立圖，軟件操作簡單。
3.機(jī)構(gòu)簡單、精度高、靈敏性好、非接觸、無需暗房操作，實時顯示全場信息及處理信息快等優(yōu)點，故而應(yīng)用廣泛，如物體形變測量、無損測量、震動測量等。
配置表及規(guī)格參數(shù)
光源： GY-11 氦氖激光器（含電源）：波長632.8nm，功率≥1.5mW,單模TEM00，全保護(hù)安全高壓插頭，腔長250mm 光學(xué)組件： 分 束 鏡：42mm*42mm或40mm*40mm，R=50%,T=50% 平面反射鏡：Φ36*4mm，鍍鋁膜 擴(kuò)束透鏡：f=6.2mm，φ6mm,AR@400～700nm 透 鏡：f=50mm、100mm，φ28mm,AR@400～700nm 偏 振 片：通光口徑Φ25.4mm，帶框，@400～700mm，消光比>400:1 機(jī)械/調(diào)整組件： 底 座：一維底座、二維底座、通用底座 調(diào) 節(jié) 架：分束鏡調(diào)節(jié)架、反射鏡調(diào)節(jié)架、透鏡調(diào)節(jié)架、被測物品架 偏振片架：口徑Φ28mm，繞X軸360°旋轉(zhuǎn)，最小刻度2° 被測物品：φ20*10mm 探測器組件： CMOS數(shù)字相機(jī)：黑白，分辨率1280*1024，量化深度10bit，像素尺寸：5.2um，USB2.0接口 數(shù)據(jù)軟件：電子散斑專用軟件 需 另 配：計算機(jī) 選 配：光學(xué)平臺 |
