產(chǎn)品介紹
F-P共焦球面掃描干涉儀是利用多光束干涉原理設(shè)計(jì)的一種光學(xué)儀器，當(dāng)入射光的頻率滿足其共振條件時(shí)，會(huì)形成相長(zhǎng)干涉，對(duì)應(yīng)著很高的透射光強(qiáng)，從而可以作為測(cè)量激光縱模等參量的有效工具。它是一種利用多光束干涉現(xiàn)象來工作的裝置，在提高光譜的單色性、研究光譜線的精細(xì)結(jié)構(gòu)和超精細(xì)結(jié)構(gòu)、測(cè)量和壓窄線寬及腔內(nèi)選模等方面有非常重要的作用。
圖1 F-P掃描干涉儀的基本結(jié)構(gòu)圖
如圖1所示，F-P掃描干涉儀由兩片曲率半徑為r的反射鏡相對(duì)放置，其中一片反射鏡固定在壓電陶瓷上，他們的間距d等于曲率半徑，從而構(gòu)成球面對(duì)稱共焦腔。被檢測(cè)光束入射到諧振腔后，會(huì)在腔內(nèi)形成多次往返，其中一小部分光透射到腔外。只有波長(zhǎng)滿足kλ=4d（k為正整數(shù)）的光才會(huì)形成干涉相長(zhǎng)，在光電探測(cè)器上得到較強(qiáng)信號(hào)。壓電陶瓷上加載掃描電壓時(shí)，腔長(zhǎng)隨之改變，入射光不同頻率成分先后滿足干涉相長(zhǎng)條件，因而光電探測(cè)器上獲得隨時(shí)間變化的光強(qiáng)信號(hào)，繼而得到待測(cè)光光譜。
產(chǎn)品特點(diǎn)
機(jī)械結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，易于調(diào)節(jié)，使用方便等
產(chǎn)品應(yīng)用
教學(xué)、光譜學(xué)、測(cè)量和長(zhǎng)度計(jì)量等領(lǐng)域
技術(shù)指標(biāo)
| 波長(zhǎng) | 750-800nm、400-800nm、750-1100nm |
| 自由光譜范圍 | 2.5GHz、20GHz（可定制） |
| 精細(xì)度 | >100（典型值100） |
| 尺寸 | ?30mm*54mm |
| 材質(zhì) | 鋁、殷鋼 |
| 工作溫度 | 15-35℃ |
