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適合激光二極管的光學(xué) SMU
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適合激光二極管的光學(xué) SMU

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Keithley SourceMeter 光儀器

通過 Keithley 儀器,可以輕松構(gòu)建 LIV(光功率-電流-電壓)系統(tǒng),從而經(jīng)濟高效地測試激光二極管模塊。

  • 2520 脈沖激光二極管測試系統(tǒng):同步測試系統(tǒng),為脈沖和連續(xù) LIV 測試提供純源化和測量功能。

  • TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT:確保通過控制其熱電冷卻器,為激光二極管模塊提供嚴(yán)格的溫度控制。



概述

功能

優(yōu)勢

主動溫度控制防止溫度變化可能引起激光二極管主輸出波長發(fā)生變化,導(dǎo)致出現(xiàn)信號重疊和串?dāng)_問題。
50W TEC 控制器比其他低功耗解決方案提供更高的測試速度和更寬的溫度設(shè)定值范圍。
全數(shù)字 P-I-D 控制提供更高的溫度穩(wěn)定性,并可通過簡單的固件變化輕松升級。
適用于熱控制環(huán)路的自動調(diào)諧功能 (2510-AT)無需反復(fù)試驗即可確定 P、I 和 D 系數(shù)的最佳組合。
寬溫度設(shè)定值范圍(–50°C 至 +225°C)以及高設(shè)定值分辨率 (±0.001°C) 和穩(wěn)定性 (±0.005°C)能夠滿足大部分冷卻光學(xué)元器件和子裝配件生產(chǎn)測試的測試要求。
兼容于多種溫度傳感器輸入 — 熱敏電阻、RTD 和 IC 傳感器適合多種激光二極管模塊的溫度傳感器類型。
交流歐姆測量功能驗證 TEC 器件的完整性。
適用于熱反饋元件的四線開路/短路引線檢測大大降低引線電阻測量值誤差,減少假故障或設(shè)備損壞的可能性。


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