2606B 高密度系統(tǒng) SourceMeter (SMU) 儀器在 1U 高的機(jī)箱中提供四條 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要優(yōu)化占地空間并減少測(cè)試時(shí)間和成本,2606B 將密度提高 3 倍、提高吞吐量并盡量減少增加測(cè)試設(shè)備機(jī)架的需求。 此 SMU 為測(cè)試激光二極管、LED、2 和 3 端子半導(dǎo)體等生產(chǎn)的理想解決方案。
概述
將密度提高 3 倍
當(dāng)生產(chǎn)測(cè)試機(jī)架空間增加且您需要盡量減少增加新測(cè)試機(jī)架的需求時(shí),與傳統(tǒng) 2U 外形的 SMU 相比,2606B 可以在同一機(jī)架區(qū)域中增加更多通道容量。

兼具兩臺(tái) 2602B 的功能
在 1 U 外形中體驗(yàn)相當(dāng)于業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的 Keithley 2602B 系統(tǒng) SourceMeter 的絕佳測(cè)量完整性、同步、速度和精度。2606B 也與 2602B 使用同樣的模擬、數(shù)字 I/O 和 TSP Link 連接器,實(shí)現(xiàn)無(wú)縫遷移。

系統(tǒng)性能提供無(wú)與倫比的生產(chǎn)吞吐量
測(cè)試腳本處理器 (TSP?) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測(cè)試程序,提供優(yōu)異性能。TSP-Link? 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道,支持高速、SMU-per-pin 并行測(cè)試(而不使用主機(jī))。<500 ns 時(shí)所有通道同時(shí)獨(dú)立受控。

應(yīng)用
3D 傳感應(yīng)用的激光二極管 (VCSEL) 生產(chǎn)測(cè)試
適合激光二極管 (LD) 生產(chǎn)測(cè)試的直流測(cè)試系統(tǒng),采用高速高精度 SMU 進(jìn)行激光二極管模塊光電二極管電流的電流源和電壓-電流監(jiān)測(cè)。 SMU 是一款經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的 LIV 儀器,系統(tǒng)同步和吞吐量高。
可編程電流源可達(dá) 3 A 電流和 100 μs 脈沖寬度
電壓和電流測(cè)量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
內(nèi)置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信

LED 的大批量生產(chǎn)測(cè)試
2606B SMU 是業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的儀器之一,用于 LED 直流檢定和生產(chǎn)測(cè)試。其可配置為源電流或電壓并結(jié)合 0.015% 基本測(cè)量精度的電壓和電流測(cè)量,滿足大量測(cè)試需求。此外,測(cè)試腳本處理器 (TSP?) 技術(shù)還具有吞吐量?jī)?yōu)勢(shì)。
可編程電流源可達(dá) 3 A 電流和 100 μs 脈沖寬度
電壓和電流測(cè)量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
內(nèi)置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信
多達(dá) 64 條通道的菊花鏈,實(shí)現(xiàn)大批量并行測(cè)試

使用多通道 SMU 儀器檢定晶體管
憑借其集成源和測(cè)量、電壓或電流、精密度和準(zhǔn)確度,2606B 系統(tǒng) SourceMeter SMU 儀器非常適合測(cè)晶片上或包裝零件內(nèi)的晶體管,包括捕獲漏電波形系列、門(mén)限電壓、門(mén)電路漏電和跨導(dǎo)。
可編程電流源可達(dá) 3 A 電流和 100 μs 脈沖寬度
電壓和電流測(cè)量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
最佳精度 0.015%,6? 位分辨率
內(nèi)置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信
