概述

無需手動脈沖調整即可實現(xiàn)高脈沖保真度

通過 2601B-PULSE 控制回路系統(tǒng)，高達 3μH 的負載變化無需手動調整，從而確保在任何電流水平（最高 10 安培）下輸出 10 μs 至 500 μs 脈沖時，脈沖均不會出現(xiàn)過沖和振蕩。脈沖上升時間 < 1.7 μs，確保您可以正確檢定被測器件或電路。

• 輸出 10 A @ 10 V，脈沖寬度為 10 μs

• 脈沖上升時間 <1.7μs，可輕松檢定

• 高保真脈沖輸出，在任何電流水平下均無需調整

將快速脈沖發(fā)生器功能與 SMU 功能集成至一臺儀器中

2601B-PULSE 在業(yè)界領先的吉時利 2601B SMU 儀器所提供的測量完整性、同步性、速度和準確性基礎上新增脈沖發(fā)生器功能。

• 通過 1 MS/s 的數(shù)字化功能，實現(xiàn)脈沖發(fā)生器 0.05% 的基本測量精度

• SMU 100 nA 低電流范圍與 100 fA 靈敏度

• 后面板 BNC 連接實現(xiàn)電纜快速設置

嵌入式腳本和連接提供很大的生產吞吐量

測試腳本處理器 (TSP?) 技術可在 SMU 儀器內嵌入和執(zhí)行完整測試程序，提供業(yè)界最佳性能。TSP-Link? 技術支持擴展多達 32 個 TSP 鏈路節(jié)點，以創(chuàng)建高速、SMU-Per-Pin 并行測試（而不使用主機）。

• 消除與 PC 之間耗時的總線通信

• 高級數(shù)據(jù)處理和流量控制

• 連接多達 32 個 TSP 鏈路節(jié)點

• 隨著測試要求變化輕松重新配置

應用

ToF/LIDAR 應用的激光二極管 (VCSEL) 生產測試

2601B-PULSE 是激光二極管垂直腔表面發(fā)射激光器 (VCSEL) LIV 生產測試的理想解決方案，采用高速高精度 10μs 脈沖發(fā)生器和 SMU，可用于 VCSEL、VCSEL 陣列和激光二極管模塊的電流脈沖源和電壓-電流監(jiān)測。SMU 提供經濟實惠的 LIV 儀器，系統(tǒng)同步和吞吐量高。

• 可編程脈沖電流源可達 10 A 電流和 10 μs 脈沖寬度

• 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 100 fA

• 內置 TSP? 處理功能可減少 PC和儀器總線通信

如何使用 2601B-PULSE System SourceMeter SMU 儀器生成 10 μs 脈沖

當輸出低至 10 μs 的脈沖時，新型電流脈沖發(fā)生器/SMU 無需耗時的手動計時

故障分析和質量保證

半導體公司和半導體研究人員不斷尋找方法，使測試設備不會成為其在半導體領域有所突破的阻礙。半導體故障分析 (FA) 工程師耗時無數(shù)，試圖了解設備故障的原因及在將來如何預防。

• 通過 SMU 和脈沖測試簡化 FA 過程

• 數(shù)字 I/O 觸發(fā)外部 IR 攝像機

• 內置定時器功能，分辨率為 1μs，精度為 ±100 ppm。

使用源測量單元和鎖定熱成像技術進行故障分析的先進技術

簡化的 LED 脈沖式/直流 I/V 檢定

2601B-PULSE 獨特的電流脈沖、直流電壓和電流功能可實現(xiàn)高速 LED 直流和脈沖 IV 檢定及生產測試，具有 0.015％ 的基本測量精度。對 microLED、LED 或高亮度 LED (HBLED) 執(zhí)行脈沖測試可最大程度地減少自發(fā)熱，并減少對測量精度的負面影響，此外，無需擔心損壞被測器件。

• 可編程電流源可達 10 A 電流和 10 μs 脈沖寬度

• 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 100 fA

• 1 M 樣點/秒數(shù)字化器，用于快速采集和測量數(shù)據(jù)

• 內置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信

晶圓半導體測試

Keithley 2601B-PULSE 和其他系列 2600B System SourceMeter? SMU 儀器將堆架式儀器的可擴展性和靈活性與基于主機系統(tǒng)的集成和高吞吐量相結合，使用 TSP 和 TSP 鏈路技術減少制造活動和測試成本。這些儀器通常用于激光二極管、LED、晶體管等晶圓半導體測試。

• 內置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信

• TSP-鏈路多達 32 臺儀器可在 500 ns 內與其他 Keithley TSP 儀器同步