ARM 角分辨光譜儀

      ARM 角分辨光譜儀 在以上領(lǐng)域的應(yīng)用得益于如下幾個(gè)特點(diǎn)：

1 超過 60° 的角度 ARM 優(yōu)選 Olympus 大 N.A. 平場(chǎng)復(fù)消色差物鏡，收集超過 60° 的角向輻射光譜；匹配智能算法，快速實(shí)現(xiàn)包括 透射 / 反射 / 輻射 (熒光) 等 9 種光譜測(cè)量模式；

2 達(dá) 5 個(gè)維度的空間選擇 ARM 內(nèi)置一個(gè)可調(diào) Aperture，可以實(shí)現(xiàn) X / Y 方向開口距離調(diào)節(jié)，XY 兩維平面位置平移，及平面內(nèi) θ 方向旋轉(zhuǎn)，準(zhǔn)確抓取 復(fù)雜形貌 的微區(qū)樣品； 3 最小 0.5° 角分辨率 ARM 采用特殊優(yōu)化的消色差、消相差光路，能夠?qū)⒔嵌确直媛侍嵘?0.5°，顯著提升光譜分析能力；

4 1.7μm 近紅外拓展 ^NEW ARM 重新對(duì)角分辨光路系統(tǒng)進(jìn)行構(gòu)型， 在近紅外波段 900~1700nm 實(shí)現(xiàn)角分辨光譜測(cè)量，對(duì)推動(dòng)光通訊、超表面、激光雷達(dá)等領(lǐng)域研究具有重要價(jià)值；

5 低溫 + 磁場(chǎng)拓展 新一代 ARM 也拓展了對(duì)低溫和磁場(chǎng)環(huán)境的支持，可適配最低 2.7K 低溫恒溫器 和最高 5T 磁場(chǎng)強(qiáng)度 超導(dǎo)磁體；

6 除此之外，ARM 還可與外部光源及 Princeton Instruments 光譜儀銜接，實(shí)現(xiàn)包括時(shí)間分辨、空間相干性、瞬態(tài)光譜采集等功能。