SEM帶掃描電鏡的疲勞試驗(yàn)機(jī)

SEM高溫疲勞試驗(yàn)機(jī)是帶掃描電子顯微鏡的疲勞試驗(yàn)機(jī)。用于在疲勞試驗(yàn)過程中動態(tài)時(shí)實(shí)觀測樣品表面的微觀破壞。可進(jìn)行拉-拉、拉-壓、三點(diǎn)彎曲疲勞試驗(yàn)及800℃以下的高溫試驗(yàn)。

  特　點(diǎn)：

· 電子顯微鏡SEM與試驗(yàn)機(jī)采用一體化結(jié)構(gòu)，具有高防振效果。
· 可以在利用SEM觀察的同時(shí)，進(jìn)行裂紋擴(kuò)展觀察試驗(yàn)。
· 可以在常溫～800℃溫度范圍內(nèi)，重復(fù)向樣品加載。
· 試驗(yàn)過程中，可以使SEM的視野與樣品的變形同步。

  規(guī)　格：

· 試驗(yàn)載荷：±10 kN
· 最大位移：±10mm
· 試驗(yàn)溫度：室溫～800℃
· SEM分辨率：高真空模式：4 nm (20 kV) 低真空模式：5 nm (20 kV)
· 放大倍率：×20～30萬倍
· 觀測范圍：6mm～16mm

  用　途：

    適合金屬、陶瓷、巖石材料的常溫、高溫疲勞性能測試和樣品表面形貌、裂紋擴(kuò)展的測試。